蔡司材料顯微鏡

   蔡司LSM900材料用于高級成像和表面形貌的多功能共聚焦顯微鏡
  蔡司材料顯微鏡
  蔡司LSM900，來自蔡司的共聚焦激光掃描顯微鏡(CLSM)，是您進行材料分析所需的一種儀器。在您的實驗室或多用戶設施中表征3D微結構表面形貌。結合所有必要的光學顯微鏡對比技術的材料與高精度地形。由于不需要更換顯微鏡，節(jié)省了安裝時間。評估表面粗糙度時，執(zhí)行非接觸共聚焦成像。LSM900是多用戶設施的理想工具。伸出你的直立光學顯微鏡，蔡司Axio成像儀。Z2m或您的倒置光學顯微鏡蔡司Axio觀察者7，與共聚焦掃描模塊。

   結合光學顯微鏡和共聚焦成像

  有效地調查你的樣本

  擴大你的成像范圍

  蔡司顯微鏡LSM900激光共聚焦顯微鏡(CLSM)是一臺用于材料分析的儀器，可在實驗室或多用戶設施中表征三維微觀結構和表面形貌。LSM900可對納米材料、金屬、聚合物和半導體進行精確的三維成像和分析。將蔡司AxioImager.Z2m正置式全自動光學顯微鏡或蔡司AxioObserver7倒置式顯微鏡裝上LSM900共聚焦掃描頭，同時具有所有的光學顯微鏡觀察模式，以及高精度的共聚焦表面三維成像模式，您可輕松將所有功能集于一身。這些功能的使用無需切換顯微鏡，您將可以進行原位觀察，節(jié)省大量的時間。自動化也會給您的數(shù)據(jù)采集和后期處理帶來諸多便利。另外，LSM900具有非接觸式共聚焦成像的優(yōu)勢，例如表面粗糙度的評估。

 蔡司材料顯微鏡 特點：

  結合光學顯微和共聚焦成像

  LSM共聚焦平臺LSM900專為2D和3D的嚴苛材料應用而開發(fā)。

  您可以用非接觸式共聚焦成像來表征樣品的形貌特征和評估表面粗糙度

  以無損方式確定涂層和薄膜的厚度

  您可以運用各種成像方式，包括在光學觀察方式或共聚焦模式下的偏光與熒光顯微成像

  在反射光下表征金相樣品，在透射光下表征巖石或聚合物薄片樣品。